射频芯片在线研讨会：全自动化射频集成电路全特性分析测试【11月24日 直播报名 免费】

传统的射频测试系统存在很多的缺陷,如测试流程繁琐、灵活性差、资源浪费问题严重等,使射频测试效率受到了影响。随着自动化技术的发展,它开始应用在射频测试系统中,这有利于实现自动测试,从而降低人力的投入,并可根据实际需要进行自动切换,能有效提高资源利用率、降低测试成本、保障测试效果。

在本次网络研讨会中，罗德与施瓦茨邀请孤波科技的技术专家，与您共同分享：

R&S测试仪器及半导体芯片测试专用自动化软件平台介绍；

RFIC 测试中常用的测试Test IP；

如何利用自动化测试软件为设计验证提供快速反馈；

如何实现全自动化的RFIC 的全特性分析测试( Full Char), 并且生成详细的 Full char报告。

 

应用工程经理

孤波科技

王孜，毕业于东南大学，获信息与通信工程硕士学位。作为核心成员之一在2019年加入上海孤波科技有限公司，并担任应用工程经理，从事半导体测试自动化和标准化的推进工作，为10余家射频类半导体客户提供测试解决方案。

 

应用专家

R&S (中国)

于飞，2004年毕业于西安电子科技大学，获测控技术与仪器专业学士学位。2010年加入罗德与施瓦茨， 2015年起任应用专家职位。主要负责汽车电子测试及通用元器件测试产品的支持工作。