金融界 2024 年 9 月 30 日消息，国家知识产权局信息显示，中国电子科技集团公司第五十八研究所申请一项名为“一种 128 路模拟开关芯片的测试方法及测试装置”的专利，公开号 CN 118707293 A，申请日期为 2024 年 6 月。
专利摘要显示，本发明公开一种 128 路模拟开关芯片的测试方法及测试装置，属于电路测试领域，包括测试 PCB 板、上位机、测试程序，所述测试 PCB 板包括母板、子板，所述母板包括电源模块、存储单元、FPGA 芯片、继电器，所述子板包括测试单元、测试夹具和被测芯片。本发明通过基于 FPGA 的继电器驱动核心板设计，实现 128 路模拟开关 ATE 自动测试；将测试 DUT 板以及 ATE 集成，通过 ATE 对被测模拟开关电路进行上电、提供测试激励，通过 ATE 的编程功能实现模拟开关各项指标的自动化测试，实现了 128 路高压模拟开关测试所需所有向量的自动施加，且所有测试激励在本发明下均可由现有的 ATE 测试资源实现。用此方法代替常规的测试方法，解决了多遍测试成本高、操作复杂的问题。